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👥 Metallographic Structure and Grain Size Analysis

ASTM grain size number from intercept counts across multiple fields.

📐 工作原理與說明

實際每毫米截點數 nL = 截點數 ÷（圖上線長 mm ÷ 放大倍數），即把圖上測量長度換算回試樣真實長度。

ASTM 晶粒度級別 G = −3.2877 + 6.6439·lg(nL)；平均截距 l̄ = 1 ÷ nL，換算為 μm 便於對照組織照片。

G 每增加 1 級晶粒數翻倍；多視場取平均並看極差，可判斷組織均勻性。

截點資料（每行「視場號,截點數」）放大倍數 M 測量線總長（圖上線長，mm）

📚 深度解析：金相晶粒度截點法評級

公式

實際每毫米截點數 nL = 截點數 ÷（圖上線長 mm ÷ 放大倍數）；晶粒度級別 G = −3.2877 + 6.6439·lg(nL)；平均截距 = 1÷nL。

算例

放大 100×、圖上線長 20 mm（實際 0.2 mm），三視場截點 10、12、9 → nL 為 50.0、60.0、45.0，G 為 8.00、8.53、7.70，平均 8.07、極差 0.83，評定為細晶。

⚠️ 使用說明與注意事項

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