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👥 Metallographic Structure and Grain Size Analysis

ASTM grain size number from intercept counts across multiple fields.

📐 工作原理与说明

实际每毫米截点数 nL = 截点数 ÷（图上线长 mm ÷ 放大倍数），即把图上测量长度换算回试样真实长度。

ASTM 晶粒度级别 G = −3.2877 + 6.6439·lg(nL)；平均截距 l̄ = 1 ÷ nL，换算为 μm 便于对照组织照片。

G 每增加 1 级晶粒数翻倍；多视场取平均并看极差，可判断组织均匀性。

截点数据（每行「视场号,截点数」）放大倍数 M 测量线总长（图上线长，mm）

📚 深度解析：金相晶粒度截点法评级

公式

实际每毫米截点数 nL = 截点数 ÷（图上线长 mm ÷ 放大倍数）；晶粒度级别 G = −3.2877 + 6.6439·lg(nL)；平均截距 = 1÷nL。

算例

放大 100×、图上线长 20 mm（实际 0.2 mm），三视场截点 10、12、9 → nL 为 50.0、60.0、45.0，G 为 8.00、8.53、7.70，平均 8.07、极差 0.83，评定为细晶。

⚠️ 使用说明与注意事项

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